Samsung avaldas Galaxy Note7 rikete põhjused

Note7 probleemide tuvastamiseks käivitatud uurimine hõlmas nii riistvara kui ka tarkvara igakülgset testimist, samuti seadmete kokkupaneku, erinevate tootmisprotsesside ja -etappide ning logistika uurimist. Analüüside läbi viimise jaoks ehitas Samsung eraldi uurimiskeskuse, kus ligikaudu 700 Samsungi teadlast ja inseneri kutsusid intsidenti taas esile, testides enam kui 200 000 täielikult kokkupandud seadet ning rohkem kui 30 000 akut.  

8-punktiline akude ohutuse kontroll

Samsung tugevdas ohutuse ja kvaliteedi tagamise protsesse 8-punktilise akude ohutuse kontrollimissüsteemi kaudu:            

Vastupidavuskatse – rõhukatsed ekstreemtemperatuuridel ning ülelaadimisega, akude torkekatsed ja muud vastupidavuskatsed            Visuaalne kontroll – akude visuaalne võrdlemine standardiseeritud näidistega            Läbivalgustuskatsed – akude läbivalgustamine, et tuvastada kõikvõimalikke probleeme, nagu elektroodide painded, mis osutus üheks Note7 intsidendi põhjuseks            Demonteerimiskatse – aku demonteerimine, et viia läbi üldise kvaliteedi detailne kontroll, mis hõlmab muuhulgas akuklemmide ja isolatsiooniteibi konditsiooni uurimist            TVOC Katse – Tajumistestide läbiviimine, et tuvastada väikseimgi lekkevõimalus aku elementide ja kogu seadme tasemetel            ?OCV Katse – Aku seisukorra kontrollimine pinge muutuse kaudu tavatemperatuuril            Laadimis- ja tühjendamiskatse – Uute mahukate laadimis- ja tühjendamiskatsete rakendamine kõikidele seadmetele, mille Samsung lisas Note7 juhtumi uurimise käigus            Kiirendatud kasutajatest –2-nädalase päriskasutaja kasutusstsenaariumide läbitegemine viiepäevase testperioodi jooksul